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机构
西安光学精密机械研究... [2]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
专利 [2]
发表日期
2006 [1]
2000 [1]
学科主题
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浏览/检索结果:
共2条,第1-2条
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バーンイン装置およびバーンイン試験方法
专利
OAI收割
专利号: JP2006058077A, 申请日期: 2006-03-02, 公开日期: 2006-03-02
作者:
上山 明紀
;
三橋 由蔵
;
玉石 正幸
;
谷口 隆浩
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提交时间:2019/12/31
半導体素子および半導体発光素子ならびに半導体受光素子
专利
OAI收割
专利号: JP2000022276A, 申请日期: 2000-01-21, 公开日期: 2000-01-21
作者:
冨谷 茂隆
;
喜嶋 悟
;
奥山 浩之
;
谷口 理
;
塚本 弘範
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提交时间:2020/01/18