机构

• 上海技术物理研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 专利 [1]

发表日期

• 2010 [1]

学科主题

筛选

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 一种检测光照下半导体光探测器件表面漏电通道的方法 专利  OAI收割 专利号: 200910050313.7, 申请日期: 2010-01-01, 公开日期: 2011-07-07 作者:  陆卫 殷豪 李天信 胡伟达 王文娟 甄红楼 李宁 陈平平 李志锋 陈效双 李永富 龚海梅   |  收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2011/07/07