中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
高能物理研究所 [9]
采集方式
OAI收割 [9]
内容类型
会议论文 [9]
发表日期
2016 [1]
2015 [1]
2014 [3]
学科主题
筛选
浏览/检索结果:
共9条,第1-9条
帮助
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
题名升序
题名降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
发表日期升序
发表日期降序
Design and Experimental Tests of the SwissFEL Wire-Scanners
会议论文
OAI收割
Barcelona, 2016
作者:
G.L.Orlandi
;
R.Ischebeck
;
C.Ozkan Loch
;
V.Schlott
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:13/0
  |  
提交时间:2017/06/15
System Integration of SwissFEL Beam Loss Monitors
会议论文
OAI收割
Proceedings of the 4th International Beam Instrumentation Conference, Australia, 2015
作者:
P.Pollet
;
R.Ischebeck
;
D.Llorente Sancho
;
G.Marinkovic
;
C.Ozkan Loch
收藏
  |  
浏览/下载:24/0
  |  
提交时间:2016/06/14
Summary of the U15 Prototype Magnetic Performance
会议论文
OAI收割
Proceedings of the 36th International Free Electron Laser Conference, Switzerland, 2014
作者:
M.Calvi
;
M.Aiba
;
M.Brügger
;
S.Danner
;
R.Ganter
收藏
  |  
浏览/下载:22/0
  |  
提交时间:2017/02/17
High Power RF Test and Analysis of Dark Current in the SwissFEL-gun
会议论文
OAI收割
Proceedings of the 36th International Free Electron Laser Conference, Switzerland, 2014
作者:
P.Craievich
;
S.Bettoni
;
M.Bopp
;
A.Citterio
;
C.Ozkan
收藏
  |  
浏览/下载:29/0
  |  
提交时间:2017/02/17
Design and Test of Wire-Scanners for SwissFEL
会议论文
OAI收割
Proceedings of the 36th International Free Electron Laser Conference, Switzerland, 2014
作者:
G.L.Orlandi
;
M.Baldinger
;
H.Brands
;
P.Heimgartner
;
R.Ischebeck
收藏
  |  
浏览/下载:29/0
  |  
提交时间:2017/02/17
First Experimental Results of the Commissioning of the SwissFEL Wire-Scanners
会议论文
OAI收割
Michigan, USA, 2017
作者:
G.L.Orlandi
;
A.D.Alarcon
;
S.Borrelli
;
A.Gobbo
;
P.Heimgartner
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:22/0
  |  
提交时间:2018/11/19
The ACHIP Experimental Chambers at PSI
会议论文
OAI收割
Santa Fe,NM,USA, 2017
作者:
E.Ferrari
;
M.Bednarzik
;
S.Bettoni
;
S.Borrelli
;
H.-H.Braun
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:27/0
  |  
提交时间:2018/11/16
A Novel Nanotechnology Based Wire Scanner for Sub-Micrometer Resolution Measurements of the Electron Beam Profile at SwissFEL
会议论文
OAI收割
Michigan, USA, 2017
作者:
S.Borrelli
;
M.Bednarzik
;
Ch.David
;
E.Ferrari
;
A.Gobbo
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:12/0
  |  
提交时间:2018/11/19
Commissioning Results and First Operational Experience with SwissFEL Diagnostics
会议论文
OAI收割
Michigan, USA, 2017
作者:
V.Schlott
;
V.R.Arsov
;
M.Baldinger
;
R.Baldinger
;
G.Bonderer
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:19/0
  |  
提交时间:2018/11/19