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包含参考光束的垂直入射宽带偏振光谱仪及光学测量系统 专利  OAI收割
申请日期: 2011-12-19, 公开日期: 2012-11-20
作者:  马铁中;  李国光;  刘涛;  赵江艳;  郭青杨
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Evaluation of openings in a dielectric layer 专利  OAI收割
专利号: US20060094136A1, 申请日期: 2006-05-04, 公开日期: 2006-05-04
作者:  BORDEN, PETER G.;  LI, JIPING;  GENIO, EDGAR
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