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Interfacial Bonding and Structure of Bi2Te3 Topological Insulator Films on Si(111) Determined by Surface X-Ray Scattering 期刊论文  OAI收割
PHYSICAL REVIEW LETTERS, 2013, 卷号: 110, 期号: 22, 页码: 226103
作者:  
Liu, Y;  王焕华;Wang, HH;  Bian, G;  Zhang, Z;  Lee, SS
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