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• 金属研究所 [2]

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• OAI收割 [2]

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• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2019 [2]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Microstructural evolution and failure mechanism of 62Sn36Pb2Ag/Cu solder joint during thermal cycling 期刊论文  OAI收割 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 99, 页码: 12-18 作者:  Li, Qi-hai;  Li, Cai-Fu;  Zhang, Wei;  Chen, Wei-wei;  Liu, Zhi-Qua   |  收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2021/02/02 62Sn36Pb2Ag solder joint  Microstructural evolution  Failure analysis  Intermetallic compound (IMC)  Thermal cycling   Microstructural evolution and failure mechanism of 62Sn36Pb2Ag/Cu solder joint during thermal cycling 期刊论文  OAI收割 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 99, 页码: 12-18 作者:  Li, Qi-hai;  Li, Cai-Fu;  Zhang, Wei;  Chen, Wei-wei;  Liu, Zhi-Qua   |  收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2021/02/02 62Sn36Pb2Ag solder joint  Microstructural evolution  Failure analysis  Intermetallic compound (IMC)  Thermal cycling