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机构
物理研究所 [1]
半导体研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2006 [2]
学科主题
半导体材料 [1]
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XPS depth profiling study of n/TCO interfaces for p-i-n amorphous silicon solar cells
期刊论文
OAI收割
APPLIED SURFACE SCIENCE, 2006, 卷号: 253, 期号: 3, 页码: 1677
Sheng, SR
;
Hao, HY
;
Diao, HW
;
Zeng, XB
;
Xu, Y
;
Liao, XB
;
Monchesky, TL
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提交时间:2013/09/23
A-SI-H
XPS depth profiling study of n/TCO interfaces for p-i-n amorphous silicon solar cells
期刊论文
OAI收割
applied surface science, 2006, 卷号: 253, 期号: 3, 页码: 1677-1682
Sheng SR (Sheng Shuran)
;
Hao HY (Hao Huiying)
;
Diao HW (Diao Hongwei)
;
Zeng XB (Zeng Xiangbo)
;
Xu Y (Xu Ying)
;
Liao XB (Liao Xianbo)
;
Monchesky TL (Monchesky Theodore L.)
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提交时间:2010/03/29
amorphous silicon