机构

• 过程工程研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 1989 [1]

学科主题

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 表面分析:X射线光电子能谱学和俄歇电子能谱学 期刊论文  OAI收割 光谱实验室, 1989, 期号: 04, 页码: 147-167+146 作者:  N.H.特纳;  季明荣;  温庆生;  周开亿 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2014/08/27 谱学  俄歇电子  光谱法  溅射法  分析测试工作  荷电效应  表面分析  俄歇跃迁  穆斯堡尔  薄膜研究