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Defect structure of high temperature hydride vapor phase epitaxy-grown epitaxial (0001) AlN/sapphire using growth mode modification process 期刊论文  OAI收割
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 2017
作者:  
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Catastrophic Degradation of InGaN/GaN Blue Laser Diodes 期刊论文  OAI收割
IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, 2016, 卷号: 16, 期号: 4, 页码: 638-641
作者:  Wen, Pengyan(温鹏雁);  Zhang, Shuming(张书明);  Liu, Jianping(刘建平);  Li, Deyao(李德尧);  Zhang, Liqun(张立群)
收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2017/03/11