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Relaxed gexsi1-x layer formation with reduced dislocation density grown by ultrahigh vacuum chemical vapor deposition 期刊论文  iSwitch采集
Applied physics a-materials science & processing, 2000, 卷号: 70, 期号: 4, 页码: 449-451
作者:  
Luo, GL;  Chen, PY;  Lin, XF;  Tsien, P;  Fan, TW
收藏  |  浏览/下载:27/0  |  提交时间:2019/05/12
Relaxed GexSi1-x layer formation with reduced dislocation density grown by ultrahigh vacuum chemical vapor deposition 期刊论文  OAI收割
applied physics a-materials science & processing, 2000, 卷号: 70, 期号: 4, 页码: 449-451
Luo GL; Chen PY; Lin XF; Tsien P; Fan TW
收藏  |  浏览/下载:66/0  |  提交时间:2010/08/12