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新疆理化技术研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2012 [1]
学科主题
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Total dose irradiation and hot-carrier effects of sub-micro NMOSFETs
期刊论文
OAI收割
Journal of Semiconductors, 2012, 卷号: 33, 期号: 1
作者:
Cui, Jiangwei
;
Xue, Yaoguo
;
Yu, Xuefeng
;
Ren, Diyuan
;
Lu, Jian
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提交时间:2014/11/11