机构

• 微电子研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2018 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 A Study of High-Low Frequency Charge Pumping Method on Evaluating Interface Traps in Bulk FinFETs 期刊论文  OAI收割 ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2018 作者:  Ying Jin;  Yangyu Tian;  Kun Chen;  Jun Luo   |  收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/05/20