机构

• 半导体研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2001 [1]

学科主题

• 光电子学 [1]

筛选

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Determination of structure and polarity of SiC single crystal by X-ray diffraction technique 期刊论文  OAI收割 chinese journal of semiconductors, 2001, 卷号: 22, 期号: 1, 页码: 35-39 Zheng Xinhe, Qu Bo, Wang Yutian, Yang Hui, Liang Junwu 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2014/05/15