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光电技术研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2014 [1]
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一种光电码盘缺陷检测方法的FPGA实现
期刊论文
OAI收割
半导体光电, 2014, 卷号: 35, 期号: 4, 页码: 701-704
作者:
周锋
;
岳永坚
;
刘恩海
;
余光清
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提交时间:2016/11/03
码盘缺陷
检测
亮点或暗斑
相位差
FPGA仿真