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• 电子学研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2001 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 基于两维压缩特征字分析的BIST性能分析 期刊论文  OAI收割 系统工程与电子技术, 2001, 卷号: 23, 期号: 9, 页码: 1-4 蔡晨曦，王秀坛，彭应宁 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2010/09/02 信号处理 自检验 特征分析 故障安全设计