中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
光电技术研究所 [3]
上海光学精密机械研究... [1]
采集方式
OAI收割 [4]
内容类型
学位论文 [3]
期刊论文 [1]
发表日期
2020 [1]
2015 [1]
2009 [1]
2005 [1]
学科主题
筛选
浏览/检索结果:
共4条,第1-4条
帮助
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
题名升序
题名降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
发表日期升序
发表日期降序
扫描哈特曼方法的像质检测性能分析
期刊论文
OAI收割
光学学报, 2020, 卷号: 40, 期号: 7, 页码: 109-116
作者:
戴勋义[1,2]
;
谭毅[1,2]
;
任戈[1,2]
;
谢宗良[1,2]
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:24/0
  |  
提交时间:2021/05/11
测量
扫描哈特曼技术
[7948209]ZERNIKE多项式
像质检测
子孔径斜率
近眼显示光学系统像质的快速检测方法研究
学位论文
OAI收割
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2015
作者:
孙 琦
收藏
  |  
浏览/下载:82/0
  |  
提交时间:2015/07/29
近眼显示
像质检测
调制传递函数
对比传递函数
误差分析
级联系统
低温光学系统的研究
学位论文
OAI收割
博士, 光电技术研究所: 中国科学院光电技术研究所, 2009
任栖锋
收藏
  |  
浏览/下载:143/0
  |  
提交时间:2013/11/19
低温光学系统
真空与致冷
两级温区
光学集成分析
低温像质检测
大口径光学元件检测技术研究
学位论文
OAI收割
硕士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2005
作者:
闫岩
收藏
  |  
浏览/下载:25/0
  |  
提交时间:2016/11/28
大口径光学元件
损伤检测
像质检测
哈特曼检验法