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微电子研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2008 [1]
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双栅氧LDMOS器件工艺技术的研究与改进
期刊论文
OAI收割
半导体技术, 2008, 卷号: 33, 期号: 9, 页码: 3,784-786
作者:
王文博
;
宋李梅
;
王晓慧
;
杜寰
;
韩郑生
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提交时间:2010/05/27
双栅氧刻蚀
Ldmos
栅源台阶高度
多晶残留