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基于输出违例概率的时延向量测试质量评估 期刊论文  OAI收割
电子学报, 2011, 卷号: 39.0, 期号: 005, 页码: 1031
作者:  
王杰;  梁华国;  李华伟;  闵应骅;  李晓维
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集成电路中的时延可测性设计技术 期刊论文  OAI收割
信息技术快报, 2010, 卷号: 8, 期号: 2, 页码: 17
作者:  
裴颂伟;  李华伟
  |  收藏  |  浏览/下载:16/0  |  提交时间:2010/03/30