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电子能损的潜径迹形成机制及理论模型的新进展 期刊论文  OAI收割
核技术, 2002, 卷号: 2002, 期号: 07, 页码: 481-486
侯明东,刘杰,张庆祥
  |  收藏  |  浏览/下载:9/0  |  提交时间:2010/10/29