机构

• 计算技术研究所 [1]
• 沈阳自动化研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2007 [1]
• 2005 [1]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 集成电路测试技术的新进展 期刊论文  OAI收割 电子测量与仪器学报, 2007, 卷号: 21.0, 期号: 004, 页码: 1 作者:  时万春   |  收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2023/12/04 集成电路测试系统  SIP测试  RF测试  DFT测试  并发测试  开放式体系结构ATE   基于状态维修的开放系统研究与实现 期刊论文  OAI收割 计算机集成制造系统-CIMS, 2005, 卷号: 11, 期号: 3, 页码: 416-421 作者:  徐皑冬;  郭前进;  于海斌   |  收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2010/11/29 状态维修  开放式系统结构  分布式计算