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屏蔽材料封装CMOS器件的电子辐照损伤 期刊论文  OAI收割
核电子学与探测技术, 2009, 卷号: 29, 期号: 2, 页码: 398-401
作者:  
文林;  郭旗;  张军;  任迪远;  孙静
收藏  |  浏览/下载:15/0  |  提交时间:2012/11/29