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机构
新疆理化技术研究所 [8]
上海技术物理研究所 [1]
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OAI收割 [9]
内容类型
期刊论文 [6]
会议论文 [2]
学位论文 [1]
发表日期
2018 [2]
2017 [1]
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CMOS图像传感器在质子辐照下产生热像素的规律与机理研究
学位论文
OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2018
作者:
王田晖
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提交时间:2018/07/06
Cmos图像传感器
热像素
质子辐照
位移损伤
暗信号
CMOS图像传感器在质子辐照下热像素的产生和变化规律
期刊论文
OAI收割
发光学报, 2018, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 1697-1704
作者:
王田珲
;
李豫东
;
文林
;
冯婕
;
蔡毓龙
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2020/03/25
CMOS图像传感器
热像素
质子辐照
位移损伤
暗信号
CMOS有源像素图像传感器的电子辐照损伤效应研究
期刊论文
OAI收割
发光学报, 2017, 卷号: 38, 期号: 2, 页码: 182-187
作者:
玛丽娅
;
李豫东
;
郭旗
;
刘昌举
;
文林
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提交时间:2017/02/23
电子辐照
CMOS有源像素传感器
暗信号
电荷耦合器件的γ辐照剂量率效应研究
期刊论文
OAI收割
发光学报, 2016, 卷号: 37, 期号: 6, 页码: 711-719
作者:
武大猷
;
文林
;
汪朝敏
;
何承发
;
郭旗
;
李豫东
;
曾俊哲
;
汪波
;
刘元
;
郭旗
;
何承发
;
李豫东
;
文林
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提交时间:2016/12/03
电荷耦合器件
暗信号
低剂量率损伤增强效应
暗场像素统计
电荷耦合器件中子辐照诱发的位移效应
期刊论文
OAI收割
发光学报, 2016, 卷号: 37, 期号: 1, 页码: 45-49
作者:
汪波
;
李豫东
;
郭旗
;
汪朝敏
;
文林
;
郭旗
;
李豫东
;
文林
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2016/03/01
电荷耦合器件
中子辐照
位移效应
电荷转移效率
暗信号
质子辐射下互补金属氧化物半导体有源像素传感器暗信号退化机理研究
期刊论文
OAI收割
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 8, 页码: 193-199
作者:
汪波
;
李豫东
;
郭旗
;
刘昌举
;
文林
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提交时间:2015/06/26
互补金属氧化物半导体有源像素传感器
暗信号
质子辐射
位移效应
γ射线辐照CMOS有源像素传感器的总剂量辐射效应研究
会议论文
OAI收割
中国甘肃兰州, 2014-08-13
作者:
汪波
;
李豫东
;
郭旗
;
刘昌举
;
任迪远
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提交时间:2018/06/04
Cmos Aps
暗信号
像素单元结构
电离总剂量
Locos隔离
60Co-γ射线辐照CMOS有源像素传感器诱发暗信号退化的机理研究
期刊论文
OAI收割
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 5, 页码: 313-319
作者:
汪波
;
李豫东
;
郭旗
;
刘昌举
;
文林
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浏览/下载:27/0
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提交时间:2014/11/11
CMOS有源像素传感器
暗信号
60 Co-γ射线
损伤机理
CMOS APS
dark signal
60 Coγ-rays
damage mechanism
一种EMCCD噪声分析及工作模式的优化设计
会议论文
OAI收割
中国光学学会2011年学术大会
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2016/06/04
EMCCD
暗信号
时钟感生电荷
噪声分析
微光成像
电子倍增