机构

• 高能物理研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 1994 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 用同步辐射X射线荧光微区分析技术测定单晶硅中的掺杂元素As 期刊论文  OAI收割 核技术, 1994, 期号: 8, 页码: 476-480 作者:  吴强;  刘亚雯;  魏成连;  袁汉章;  朱腾 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2015/12/25 同步辐射  X射线荧光微区分析  杂质As