机构

• 微电子研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2005 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 氧等离子气氛中NMOS器件的性能退化 期刊论文  OAI收割 微电子学与计算机, 2005, 卷号: 22, 期号: 8, 页码: 4,1-4 作者:  韩郑生;  海潮和;  李俊峰;  钟兴华;  杨建军   |  收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2010/05/26 等离子剥离（干法去胶）  天线比（ar）  栅漏电流密度  闯值漂移  电流应力  时间测试