机构

• 微电子研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2006 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序 硅膜厚度对0.1μm SOI槽栅NMOS器件特性的影响 期刊论文  OAI收割 微电子学与计算机, 2006, 卷号: 23, 期号: 5, 页码: 28-30 作者:  韩郑生;  孙宝刚;  邵红旭;  吴峻峰   |  收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2010/05/26 Soi  槽栅mos器件  短沟道效应  热载流子效应