机构

• 上海技术物理研究所 [1]
• 合肥物质科学研究院 [1]

采集方式

• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2005 [1]
• 2003 [1]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序 氦质谱检漏仪背压检漏标准剖析及非标漏率计算程序 期刊论文  OAI收割 真空科学与技术学报, 2005, 卷号: 25, 期号: z1, 页码: 20-26 - 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2016/05/16 密封器件  检漏  氦质谱检漏仪  背压法  漏率计算  程序   HT—7U超导托卡马克装置低温杜瓦的真空问题 期刊论文  OAI收割 真空, 2003, 卷号: 000 作者:  李生发;  罗南昌;  王小明;  辜学茂;  武玉   |  收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2020/11/23 氦漏率  真空状况分析  超导磁体低温杜瓦  聚变装置