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预先老化对注FnMOS器件辐射可靠性的影响 期刊论文  OAI收割
半导体学报, 2005, 卷号: 26, 期号: 1, 页码: 111-114
作者:  
崔帅;  余学峰;  任迪远;  张华林;  艾尔肯
收藏  |  浏览/下载:18/0  |  提交时间:2012/11/29
预先老化对注FnMOS器件辐射可靠性的影响 期刊论文  OAI收割
半导体学报, 2005, 期号: 1, 页码: 111-114
作者:  
崔帅;  余学峰;  任迪远;  张华林;  艾尔肯
收藏  |  浏览/下载:24/0  |  提交时间:2012/11/29