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一种制备适用于监测氯离子浓度的Ag/Agcl工作电极的方法 专利  OAI收割
专利类型: 发明, 专利号: CN201310624990.1, 申请日期: 2014-02-26, 公开日期: 2014-02-26
李伟华; 李振垒; 侯保荣
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氢气氛浮区硅单晶中正电子湮灭参数的测量 期刊论文  OAI收割
核技术, 1982, 期号: 6, 页码: 66-68
作者:  
季国坤;  黄懋容;  刘年庆
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