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总剂量辐射下的NMOS/SOI器件背栅阈值电压漂移模型 期刊论文  OAI收割
功能材料与器件学报, 2010, 期号: 04
贺威; 张正选
收藏  |  浏览/下载:29/0  |  提交时间:2012/01/06
速调管的稳定性问题研究 学位论文  OAI收割
博士, 电子学研究所: 中国科学院电子学研究所, 2009
全亚民
收藏  |  浏览/下载:59/0  |  提交时间:2011/07/19
速调管的稳定性问题研究 学位论文  OAI收割
博士, 电子学研究所: 中国科学院电子学研究所, 2009
全亚民
收藏  |  浏览/下载:13/0  |  提交时间:2011/07/19