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新疆理化技术研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [1]
内容类型
会议论文 [1]
发表日期
2014 [1]
学科主题
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CMOS有源像素图像传感器的电子辐照损伤效应研究
会议论文
OAI收割
中国甘肃兰州, 2014-08-13
作者:
玛丽娅
;
李豫东
;
郭旗
;
刘昌举
;
文林
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提交时间:2018/06/05
Cmos有源像素传感器
电子辐照
电离效应
暗电流
氧化物陷阱电荷
界面态缺陷