机构

• 金属研究所 [1]
• 遥感与数字地球研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2006 [1]
• 1999 [1]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 HfO_2/Si(001)界面层的TEM研究 期刊论文  OAI收割 电子显微学报, 2006, 期号: S1, 页码: 95-96 卓木金; 马秀良 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2012/04/12 界面层厚度:7807  栅介质层:3216  相对介电常数:2195  薄膜:2048  二氧化硅:1902  氧化铪:1889  透射电子显微镜:1813  等效厚度:1778  退火温度:1778  化学成分:1696   干燥岩石的相对介电常数研究 期刊论文  OAI收割 科学通报, 1999, 期号: 13, 页码: 1384-1391 王湘云,郭华东,王超,陈培荣,施央申 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2015/01/05 干燥岩石  相对介电常数  微波遥感  电磁波传输