机构

• 长春光学精密机械与物... [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2015 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 精磨光学元件面形的干涉检测技术研究 期刊论文  OAI收割 电子测量与仪器学报, 2015, 期号: 04, 页码: 558-562 作者:  代雷;  吴迪;  张健;  张春雷;  于长淞 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2016/07/06 精磨检测  光学元件  干涉检测