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电离辐射环境下的部分耗尽绝缘体上硅n型金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性研究 期刊论文  OAI收割
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 8, 页码: 250-256
作者:  
周航;  崔江维;  郑齐文;  郭旗;  任迪远
收藏  |  浏览/下载:34/0  |  提交时间:2015/06/26