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新疆理化技术研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2015 [1]
学科主题
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共1条,第1-1条
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电离辐射环境下的部分耗尽绝缘体上硅n型金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性研究
期刊论文
OAI收割
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 8, 页码: 250-256
作者:
周航
;
崔江维
;
郑齐文
;
郭旗
;
任迪远
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提交时间:2015/06/26
可靠性
绝缘体上硅n型金属氧化物半导体场效应晶体管
总剂量效应
电应力