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沟道宽度对65nm金属氧化物半导体器件负偏压温度不稳定性的影响研究 期刊论文  OAI收割
电子学报, 2018, 卷号: 46, 期号: 5, 页码: 1128-1132
作者:  
崔江维;  郑齐文;  余德昭;  周航;  苏丹丹
  |  收藏  |  浏览/下载:45/0  |  提交时间:2018/07/06
纳米PMOSFET负偏压温度不稳定性测试方法 期刊论文  OAI收割
固体电子学研究与进展, 2017, 卷号: 37, 期号: 6, 页码: 433-437
作者:  
崔江维;  郑齐文;  余徳昭;  周航;  苏丹丹
  |  收藏  |  浏览/下载:36/0  |  提交时间:2018/01/18