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金属研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
1982 [1]
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电子显微学的过去、现状与展望
期刊论文
OAI收割
分析测试通报, 1982, 期号: 0, 页码: 4-13
郭可信
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浏览/下载:42/0
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提交时间:2012/04/12
透射电子显微学:5466
透射电子显微镜:4044
晶体缺陷:3473
电子能量损失谱:3220
晶体结构:3118
电子衍射:2859
结构分析:2028
原子序数:1810
空间分辨率:1758
高分辨:1715