机构

• 微电子研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2007 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 采用LOCOS隔离的部分耗尽SOI 器件的窄沟道效应 期刊论文  OAI收割 电 子 器 件, 2007, 卷号: 30, 期号: 5, 页码: 4,1535_1538 作者:  郭天雷;  宋文斌;  许高博;  韩郑生   |  收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2010/05/26 部分耗 Soi  鸟嘴效应  边缘电场效应  反向窄沟道效应  杂质重新分布