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22nm体硅FinFET总剂量效应及热载流子可靠性研究 学位论文  OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2020
作者:  
王保顺
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22 nm体硅FinFET热载流子及总剂量效应研究 期刊论文  OAI收割
固体电子学研究与进展, 2020, 卷号: 40, 期号: 5, 页码: 384-388
作者:  
王保顺;  崔江维;  郑齐文;  席善学;  魏莹
  |  收藏  |  浏览/下载:32/0  |  提交时间:2020/11/17