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SEU tolerance improvement in 22 nm UTBB FDSOI SRAM based on a simple 8T hardened cell 期刊论文  OAI收割
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 100, 页码: 6
作者:  Cai, C.;  Zhao, P. X.;  Xu, L. W.;  Liu, T. Q.;  Li, D. Q.
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