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• 上海微系统与信息技术... [1]

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• 期刊论文 [1]

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• 2000 [1]

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• Physics, C... [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Spectroscopic ellipsometry study of SiC/Si heterostructures formed by high-dose C+ implantation into silicon 期刊论文  OAI收割 SOLID STATE COMMUNICATIONS, 2000, 卷号: 116, 期号: 3, 页码: 177-180 Yang, SH; Chen, DH; Li, HQ; Zhang, YL; Mo, D; Wong, SP 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2012/03/24 ARC ION-SOURCE  CARBON IMPLANTATION