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Effects of heavy ion irradiation on Cu/Al2O3/Pt CBRAM devices 期刊论文  OAI收割
MICROELECTRONIC ENGINEERING, 2021, 卷号: 247, 页码: 4
作者:  Su, Chaohui;  Shan, Linbo;  Yang, Dongliang;  Zhao, Yanfei;  Fu, Yujun
  |  收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2021/12/08