机构

• 化学研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2015 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Argon Cluster Sputtering Source for ToF-SIMS Depth Profiling of Insulating Materials: High Sputter Rate and Accurate Interfacial Information 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF THE AMERICAN SOCIETY FOR MASS SPECTROMETRY, 2015, 卷号: 26, 期号: 8, 页码: 1283-1290 作者:  Wang, Zhaoying;  Liu, Bingwen;  Zhao, Evan W.;  Jin, Ke;  Du, Yingge 收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2015/10/27 ToF-SIMS  Argon cluster  SON68 glass  Perovskite oxide thin films  Sputtering rate  Charging alleviation