机构

• 计算技术研究所 [1]
• 沈阳自动化研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [2]

内容类型

• 学位论文 [1]
• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2008 [1]
• 2007 [1]

学科主题

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 系统级芯片的测试与可测性设计方法研究 学位论文  OAI收割 沈阳: 中国科学院沈阳自动化研究所, 2008 作者:  闫永志   |  收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2010/11/29 Soc测试  Dft  测试数据压缩  测试功耗  测试调度   集成电路测试技术的新进展 期刊论文  OAI收割 电子测量与仪器学报, 2007, 卷号: 21.0, 期号: 004, 页码: 1 作者:  时万春   |  收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2023/12/04 集成电路测试系统  SIP测试  RF测试  DFT测试  并发测试  开放式体系结构ATE