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Electron holography characterization of the electrostatic potential of thin high-kappa dielectric film embedded in gate stack 期刊论文  OAI收割
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2011, 卷号: 99, 期号: 16
Yao, Y; Yang, Y; Duan, XF; Wang, YG; Yu, RC; Xu, QX
收藏  |  浏览/下载:36/0  |  提交时间:2013/09/17