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Improving atomic force microscopy imaging by a direct inverse asymmetric PI hysteresis model 期刊论文  OAI收割
SENSORS, 2015, 卷号: 15, 期号: 2, 页码: 3409-3425
作者:  Wang D(王栋);  Yu P(于鹏);  Wang FF(王飞飞);  Chan, Ho-Yin;  Zhou L(周磊)
  |  收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2015/03/17