机构

• 化学研究所 [1]
• 高能物理研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2011 [1]
• 2008 [1]

学科主题

• Physics [1]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Considerations of the intermediate oxides via XPS elemental quantitative analysis for the thickness measurements of ultrathin SiO2 on Si 期刊论文  OAI收割 SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2011, 卷号: 43, 期号: 7, 页码: 1015-1017 作者:  Liu, Fen;  Zhao, Zhijuan;  Zhao, Liangzhong;  Wang, Hai   |  收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2019/04/09 Intermediate Oxide  Silicon Dioxide  Elemental Quantitative Analysis  Layer Thickness Measurement  Xps   Quantitative analysis results of CE-1 X-ray fluorescence spectrometer ground base experiment 期刊论文  OAI收割 CHINESE PHYSICS C, 2008, 卷号: 32, 期号: 1, 页码: #REF! 作者:  Cui XZ(崔兴柱);  Wang HY(王焕玉);  Zhang CM(张承模);  Chen Y(陈勇);  Zhang JY(张家宇) 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2016/04/11 X-ray fluorescence  elemental abundance  lunar surface  quantitative analysis