机构

• 半导体研究所 [2]

采集方式

• iSwitch采集 [1]
• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2000 [2]

学科主题

• 半导体物理 [1]

筛选

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Studies of high dc current induced degradation in iii-v nitride based heterojunctions 期刊论文  iSwitch采集 Ieee transactions on electron devices, 2000, 卷号: 47, 期号: 7, 页码: 1421-1425 作者:  Ho, WY;  Surya, C;  Tong, KY;  Lu, LW;  Ge, WK 收藏  |  浏览/下载：31/0  |  提交时间：2019/05/12 Current stressing  Dlts  Flicker noise  Heterojunctions  Iii-v nitride   Studies of high DC current induced degradation in III-V nitride based heterojunctions 期刊论文  OAI收割 ieee transactions on electron devices, 2000, 卷号: 47, 期号: 7, 页码: 1421-1425 Ho WY; Surya C; Tong KY; Lu LW; Ge WK 收藏  |  浏览/下载：46/0  |  提交时间：2010/08/12 current stressing  DLTS  flicker noise  heterojunctions  III-V nitride  LOW-FREQUENCY FLUCTUATIONS  RESONANT-TUNNELING DIODES  FLICKER NOISE  GALLIUM NITRIDE  1/F NOISE  DEVICES  TRANSISTORS  QUALITY