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Analysis of functional failure mode of commercial deep sub-micron SRAM induced by total dose irradiation 期刊论文  OAI收割
CHINESE PHYSICS B, 2015, 卷号: 24, 期号: 10
作者:  Zheng, QW (Zheng Qi-Wen);  Cui, JW (Cui Jiang-Wei);  Zhou, H (Zhou Hang);  Yu, DZ (Yu De-Zhao);  Yu, XF (Yu Xue-Feng)
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