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• 上海微系统与信息技术... [1]

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• 2008 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Investigation of charge trapping/de-trapping induced operation lifetime degradation in triple SuperFlash((R)) memory cell 期刊论文  OAI收割 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2008, 卷号: 48, 期号: 11-12, 页码: 1809-1814 Cao, ZG; Zhang, B; Zhang, X; Lee, E; Kong, WR 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2012/03/24 GATE FLASH MEMORIES  DATA RETENTION  EMBEDDED MEMORY  INJECTION  HIMOS