机构

• 微电子研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2008 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 基于Agilent VEE的HEMT器件在片虚拟仪器测试系统 期刊论文  OAI收割 电子测量技术, 2008, 卷号: 31, 期号: 6, 页码: 4，111-113,139 作者:  欧阳思华;  武锦;  李艳奎;  刘新宇   |  收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2010/05/27 Agilent  Vee  Hemt在片测试  自动化测试系统