中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
上海光学精密机械研究... [1]
近代物理研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2019 [1]
2008 [1]
学科主题
光学薄膜 [1]
筛选
浏览/检索结果:
共2条,第1-2条
帮助
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
题名升序
题名降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
发表日期升序
发表日期降序
Laser-induced damage threshold in HfO2/SiO2 multilayer films irradiated by beta-ray
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS B, 2019, 卷号: 28, 页码: 024215
作者:
Fang, Mei-Hua
;
Tian, Peng-Yu
;
Zhu, Mao-Dong
;
Qi, Hong-Ji
;
Fei, Tao
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:56/0
  |  
提交时间:2019/04/02
beta-ray irradiation
HfO2/SiO2 multilayer film
residual stress
laser-induced damage threshold
Influence of ZrO
2
in HfO
2
on reflectance of HfO
2
/SiO
2
multilayer at 248 nm prepared by electron-beam evaporation
期刊论文
OAI收割
appl. surf. sci., 2008, 卷号: 254, 期号: 15, 页码: 4864, 4867
Yuan Jingmei
;
Yuan Lei
;
贺洪波
;
Yi Kui
;
范正修
;
邵建达
收藏
  |  
浏览/下载:921/151
  |  
提交时间:2009/09/22
HfO2/SiO2 multilayer
ZrO2 impurity
reflectance